DUYURULAR
20.09.2016 - Taramalı Elektron Mikroskobu ile katı ve toz numunelerde yüzey görüntüleme analizlerinde hizmet vermekteyiz.

Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) cihazı ile kuru ve katı (12 mm x 12 mm boyutunda) ile toz numunelerde (min. 10 mg) numune iletkenliğine bağlı olarak 30.00 KX’ e kadar büyütme seçeneği ile yüzey görüntüleme analizlerinde hizmetinizdeyiz.